ISTFA 2015 : conference proceedings from the 41st international symposium for testing and failure analysis, November 1-5, 2015 Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA : pbk

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資料種別: 図書
ISBN: 9781627081023
タイトル: ISTFA 2015 : conference proceedings from the 41st international symposium for testing and failure analysis, November 1-5, 2015 Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA
巻次・部編番号: : pbk
著者標目: International Symposium for Testing and Failure Analysis
https://ci.nii.ac.jp/author/DA09892773
ASM International
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03177185
Electronic Device Failure Analysis Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA14185731
出版事項: ASM International
出版年月日等: c2015
出版年（W3CDTF）: 2015
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: ISTFA 2015 : conference proceedings from the 41st international symposium for testing and failure analysis
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Electronics -- Materials -- Testing -- Congresses
Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: Conference proceedings
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB21652485#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB21652485 : BB21652485