Proceedings : Sixth Asian Test Symposium (ATS '97), November 17-19, 1997, Akita, Japan

著者: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ; in cooperation with Technical Group on Fault Tolerant Systems, IEICE ... [et al.]

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一般注記：: "IEEE order plan catalog number 97TB100205"Includes bibliographies and index

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資料種別: 図書
ISBN: 0818682094
タイトル: Proceedings : Sixth Asian Test Symposium (ATS '97), November 17-19, 1997, Akita, Japan
著者・編者: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee ; in cooperation with Technical Group on Fault Tolerant Systems, IEICE ... [et al.]
著者標目: Asian Test Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08856639
IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology
https://ci.nii.ac.jp/author/DA10231349
出版事項: IEEE Computer Society Press
出版年月日等: c1997
出版年（W3CDTF）: 1997
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 97TB100205
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Testing -- Congresses
Automatic test equipment -- Congresses
LCC: TK7874
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE order plan catalog number 97TB100205"
Includes bibliographies and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA43673663#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA43673663 : BA43673663