Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2005 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Alexandria, Virginia, USA, 2005 January 24-27 : soft

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資料種別: 図書
ISBN: 0780388240
タイトル: Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2005 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Alexandria, Virginia, USA, 2005 January 24-27
巻次・部編番号: : soft
著者標目: Reliability and Maintainability Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01815564
出版事項: Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月日等: c2005
出版年（W3CDTF）: 2005
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE catalog number: 05CH37617"--T. p. verso
Includes bibliographies and indexes
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA72010819#entity
https://lccn.loc.gov/78132873
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA72010819 : BA72010819
LC control number: 78132873
https://lccn.loc.gov/78132873