Design & test techniques for VLSI & WSI circuits

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資料種別: 図書
ISBN: 0863411657
タイトル: Design & test techniques for VLSI & WSI circuits
著者・編者: edited by R.E. Massara
著者標目: Massara, R. E.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA04723429
出版事項: Peter Peregrinus on behalf of the Institution of Electrical Engineers
出版年月日等: c1989
出版年（W3CDTF）: 1989
大きさ: 24 cm
並列タイトル等: Design and test techniques for VLSI and WSI circuits
出版地（国名コード）: uk
本文の言語コード: en
件名標目: Electronic equipment. Very large scale integrated circuits. Design
Integrated circuits -- Very large scale integration
LCC: TK7874
対象利用者: 一般
関連情報: IEE Computing series
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282273349969408
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA09896676#entity
掲載誌: IEE Computing series
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282273349969408
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA09896676 : BA09896676