Hybrid microcircuit reliability data

著者: prepared by IIT Research Institute ; [Reliability Analysis Center, Rome Air Development Center]

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資料種別: 図書
ISBN: 0080205356
タイトル: Hybrid microcircuit reliability data
著者・編者: prepared by IIT Research Institute ; [Reliability Analysis Center, Rome Air Development Center]
著者標目: IIT Research Institute
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01875089
Rome Air Development Center. Reliability Analysis Center
出版事項: Pergamon Press
出版年月日等: c1976
出版年（W3CDTF）: 1976
大きさ: 27 cm
出版地（国名コード）: uk
本文の言語コード: en
件名標目: Hybrid integrated circuits -- Reliability
Datensammlung. swd
Hybridschaltung. swd
LCC: TK7874
対象利用者: 一般
一般注記: "First edition 1975 ; reprinted 1976"--T.p. verso
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB03095263#entity
https://lccn.loc.gov/75029637
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB03095263 : BB03095263
LC control number: 75029637
https://lccn.loc.gov/75029637