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X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

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X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

資料種別
図書
著者
edited by K. Sakurai and K. Hirano
出版者
High Energy Accelerator Research Organization (KEK)
出版年
2002.1
資料形態
ページ数・大きさ等
30cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

表紙: "December 21-22, 2001"

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資料種別
図書
タイトルよみ
Xセン チュウセイシ ハンシャリツホウ ニヨル ハクマク タソウマク ノ コウゾウ カイセキ
著者・編者
edited by K. Sakurai and K. Hirano
著者標目
桜井, 健次 サクライ ケンジ
平野, 馨一 ヒラノ, ケイイチ
高エネルギー加速器研究機構 コウ エネルギー カソクキ ケンキュウ キコウ
出版年月日等
2002.1
出版年(W3CDTF)
2002
大きさ
30cm
並列タイトル等
X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers