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1998 IEEE AUTOTESTCON proceedings, IEEE Systems Readiness Technology Conference : test technology for the 21st century : soft. : case.

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1998 IEEE AUTOTESTCON proceedings, IEEE Systems Readiness Technology Conference : test technology for the 21st century : soft.

資料種別
図書
著者
sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Aerospace and Electronics Systems Society, Instrumentation and Measurement Society, IEEE Los Angels Council
出版者
IEEE Service Center
出版年
c1998
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
28 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

"IEEE catalog no. 98CH36179"

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紙

資料種別
図書
ISBN
0780344200
0780344219
タイトル
1998 IEEE AUTOTESTCON proceedings, IEEE Systems Readiness Technology Conference : test technology for the 21st century
巻次・部編番号
: soft.
: case.
著者・編者
sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Aerospace and Electronics Systems Society, Instrumentation and Measurement Society, IEEE Los Angels Council
著者標目
Autotestcon
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955611外部サイト
IEEE Aerospace and Electronic Systems Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02635965外部サイト
IEEE Instrumentation and Measurement Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955666外部サイト
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Los Angeles Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02617023外部サイト
出版事項
IEEE Service Center
出版年月日等
c1998
出版年（W3CDTF）
1998
大きさ
28 cm