Twentieth annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, San Jose, CA USA, March 9-11, 2004 : proceedings 2004

著者: [sponsored by] IEEE, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society, NIST

資料に関する注記

一般注記：: Title from cover"IEEE catalog number 04CH37545" -- T.p. versoSymposium held at: Fiarmont Hotel, San Jose, CA, USA

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資料種別: 図書
ISBN: 078038363X
タイトル: Twentieth annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, San Jose, CA USA, March 9-11, 2004 : proceedings 2004
著者・編者: [sponsored by] IEEE, Components, Packaging, and Manufacturing Technology Society, NIST
著者標目: IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA10189581
Institute of Electrical and Electronics Engineers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00739948
Components, Packaging & Manufacturing Technology Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08354018
United States. National Institute of Standards and Technology
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02985311
出版事項: IEEE Service Center
出版年月日等: c2004
出版年（W3CDTF）: 2004
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Title from cover
"IEEE catalog number 04CH37545" -- T.p. verso
Symposium held at: Fiarmont Hotel, San Jose, CA, USA
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA69519421#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA69519421 : BA69519421