Focused ion beams for analysis and processing : November 27 - December 1, 2006, Boston, Massachusetts, USA

資料に関する注記

書店で探す

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
紙
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
ISBN: 9781604234305
タイトル: Focused ion beams for analysis and processing : November 27 - December 1, 2006, Boston, Massachusetts, USA
著者標目: Materials Research Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00024949
出版事項: Materials Research Society
出版年月日等: c2006
出版年（W3CDTF）: 2006
大きさ: 24 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Focused ion beams -- Industrial applications -- Congresses
Micromachining -- Congresses
Materials -- Analysis -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and index
関連情報: Materials Research Society symposium proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282268858574848
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89249363#entity
掲載誌: Materials Research Society symposium proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282268858574848
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89249363 : BA89249363