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Forensic evidence analysis and crime scene investigation : 20-21 November 1996, Boston, Massachusetts

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Forensic evidence analysis and crime scene investigation : 20-21 November 1996, Boston, Massachusetts

資料種別
図書
著者
John Hicks, Peter R. De Forest, Vivian M. Baylor, chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cosponsored by National Institute of Standards and Technology ... [et al.] ; cooperating organizations, National Institute of Justice ... [et al.]
出版者
SPIE
出版年
c1997
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
28 cm
NDC
-
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紙

資料種別
図書
ISBN
0819423432
タイトル
Forensic evidence analysis and crime scene investigation : 20-21 November 1996, Boston, Massachusetts
著者・編者
John Hicks, Peter R. De Forest, Vivian M. Baylor, chairs/editors ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering ; cosponsored by National Institute of Standards and Technology ... [et al.] ; cooperating organizations, National Institute of Justice ... [et al.]
著者標目
Hicks, John
De Forest, Peter R.
Baylor, Vivian M.
United States. National Institute of Standards and Technology
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02985311外部サイト
National Institute of Justice (U.S.)
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01123822外部サイト
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00848546外部サイト
出版事項
SPIE
出版年月日等
c1997
出版年（W3CDTF）
1997
大きさ
28 cm
出版地（国名コード）
us