2002 IEEE AUTOTESTCON proceedings, Systems Readiness Technology Conference : the new millennium challenge-transforming test

著者: sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Aerospace and Electronics Systems Society, Instrumentation and Measurement Society, IEEE Huntsville Section

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資料種別: 図書
ISBN: 078037441X
タイトル: 2002 IEEE AUTOTESTCON proceedings, Systems Readiness Technology Conference : the new millennium challenge-transforming test
著者・編者: sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Aerospace and Electronics Systems Society, Instrumentation and Measurement Society, IEEE Huntsville Section
著者標目: Autotestcon
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955611
IEEE Aerospace and Electronic Systems Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02635965
IEEE Instrumentation and Measurement Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955666
IEEE Huntsville Section
出版事項: IEEE Service Center
出版年月日等: c2002
出版年（W3CDTF）: 2002
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: Systems Readiness Technology Conference proceedings, AUTOTESTCON 2002, Huntsville Alabama
AUTOTESTCON 2002
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE catalog no. 02CH37350"
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA5930648X#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA5930648X : BA5930648X