Proceedings : International Test Conference 1997 : soft : case :microfiche :CD-ROM

Proceedings : International Test Conference 1997 : soft

著者: [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section]

資料に関する注記

一般注記：: "November 1-6, 1997, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. USA"--Cover"IEEE Catalog Number 97CH36126."--T.p. versoIncludes bibliographies and i...

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資料種別: 図書
ISBN: 0780342097
0780342100
0780342119
0780342127
タイトル: Proceedings : International Test Conference 1997
巻次・部編番号: : soft
: case
:microfiche
:CD-ROM
著者・編者: [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia section]
著者標目: International Test Conference
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0261156X
IEEE Computer Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00479199
出版事項: International Test Conference
出版年月日等: c1997
出版年（W3CDTF）: 1997
大きさ: 29 cm
並列タイトル等: ITC : International Test Conference 1997
1997 IEEE International Test Conference
Test and design validity
97CH36126
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Testing -- Congresses
Automatic checkout equipment -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: "November 1-6, 1997, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. USA"--Cover
"IEEE Catalog Number 97CH36126."--T.p. verso
Includes bibliographies and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA34937480#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA34937480 : BA34937480