1998 3rd International Workshop on Statistical Metrology, June 7, 1998, Honolulu :softbound :microfiche

1998 3rd International Workshop on Statistical Metrology, June 7, 1998, Honolulu :softbound

資料に関する注記

一般注記：: "IEEE cat. no. 98EX113."Includes bibliographical referencessponsored by the IEEE EDS Society and the 1998 Symposium on VLSI Technology

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資料種別: 図書
ISBN: 0780343387
0780343395
タイトル: 1998 3rd International Workshop on Statistical Metrology, June 7, 1998, Honolulu
巻次・部編番号: :softbound
:microfiche
著者・編者: IEEE Electron Devices Society
著者標目: International Workshop on Statistical Metrology
https://ci.nii.ac.jp/author/DA12290655
IEEE Electron Devices Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01257512
出版事項: Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月日等: c1998
出版年（W3CDTF）: 1998
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 98EX113
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Semiconductors -- Characterization -- Statistical methods -- Congresses
Semiconductors -- Measurement -- Congresses
LCC: TK7871.85
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE cat. no. 98EX113."
Includes bibliographical references
sponsored by the IEEE EDS Society and the 1998 Symposium on VLSI Technology
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA46671201#entity
https://lccn.loc.gov/97080378
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA46671201 : BA46671201
LC control number: 97080378
https://lccn.loc.gov/97080378