3rd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies : Large mirrors and telescopes : 8-12 July 2007, Chengdu, China

資料種別: 図書

著者: Yudong Zhang, Wenhan Jiang, Myung K. Cho, editors ; sponsored by COS--Chinese Optical Society (China), IOE--the Institute of Optics and Electronics, CAS (China) ; cooperating organizations, Committee of Optical Manufacturing Technology, COS (China) ; cosponsoring organizations, State Key Laboratory of Optical Technology for Microfabrication (China), SOS--Sichuan Optical Society (China) ; supporting organization, Ministry of Science and Technology of China (China) , Chinese Academy of Sciences (China), National Natural Science Foundation (China) ; technical cosponsor & published by SPIE--the International Society for Optical Engineering

出版者: SPIE

出版年: c2007

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9780819468789
タイトル: 3rd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies : Large mirrors and telescopes : 8-12 July 2007, Chengdu, China
著者・編者: Yudong Zhang, Wenhan Jiang, Myung K. Cho, editors ; sponsored by COS--Chinese Optical Society (China), IOE--the Institute of Optics and Electronics, CAS (China) ; cooperating organizations, Committee of Optical Manufacturing Technology, COS (China) ; cosponsoring organizations, State Key Laboratory of Optical Technology for Microfabrication (China), SOS--Sichuan Optical Society (China) ; supporting organization, Ministry of Science and Technology of China (China) , Chinese Academy of Sciences (China), National Natural Science Foundation (China) ; technical cosponsor & published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
著者標目: Zhang, Yudong
Jiang, Wenhan
Cho, Myung K.
出版事項: SPIE
出版年月日等: c2007
出版年（W3CDTF）: 2007
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Optical instruments -- Design and construction -- Congresses
Optical instruments -- Industrial applications -- Congresses
Optical instruments -- Testing -- Congresses
Optical industry -- Congresses
LCC: TS510
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and author index
関連情報: Proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269217551104
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA85266382#entity
掲載誌: Proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269217551104
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA85266382 : BA85266382