Proceedings : Fifty-second annual meeting Microscopy Society of America : Twenty-ninth annual meeting Microbeam Analysis Society, New Orleans, Louisiana, 31 July-5 August, 1994

資料に関する注記

書店で探す

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
紙
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
タイトル: Proceedings : Fifty-second annual meeting Microscopy Society of America : Twenty-ninth annual meeting Microbeam Analysis Society, New Orleans, Louisiana, 31 July-5 August, 1994
著者・編者: editors, G.W. Bailey, A.J. Garratt-Reed
著者標目: Annual Meeting Microscopy Society of America
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08854699
Annual Meeting Microbeam Analysis Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08854815
Bailey, G. W.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA04271917
Garratt-Reed, A. J.
出版事項: San Francisco Press
出版年月日等: c1994
出版年（W3CDTF）: 1994
大きさ: 27 cm
並列タイトル等: Microscopy
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Includes index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA24109744#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA24109744 : BA24109744