Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium, November 23-24, 1995, Bangalore, India

著者: sponsored by the IEEE Computer Society's Technical Committee on Test Technology and the VLSI Society of India (VSI)

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一般注記：: "IEEE order plan catalog number 95CS8084"Includes bibliographies and index

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資料種別: 図書
ISBN: 0818671297
タイトル: Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium, November 23-24, 1995, Bangalore, India
著者・編者: sponsored by the IEEE Computer Society's Technical Committee on Test Technology and the VLSI Society of India (VSI)
著者標目: Asian Test Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08856639
IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology
https://ci.nii.ac.jp/author/DA10231349
VLSI Society of India
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08275578
出版事項: IEEE Computer Society Press
出版年月日等: c1995
出版年（W3CDTF）: 1995
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 95CS8084
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Testing -- Congresses
Automatic test equipment -- Congresses
LCC: TK7874
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE order plan catalog number 95CS8084"
Includes bibliographies and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA28737432#entity
https://lccn.loc.gov/95076727
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA28737432 : BA28737432
LC control number: 95076727
https://lccn.loc.gov/95076727