2008 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop : November 19-21, 2008, Incline Village, Nevada : proceedings

資料種別: 図書

著者: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, IEEE Computer Society Design Automation Technical Committee

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2008

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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資料種別: 図書
ISBN: 9781424429226
タイトル: 2008 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop : November 19-21, 2008, Incline Village, Nevada : proceedings
著者・編者: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council, IEEE Computer Society Design Automation Technical Committee
著者標目: IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop
https://ci.nii.ac.jp/author/DA16454834
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1250352X
IEEE Computer Society. Design Automation Technical Committee
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03047306
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: c2008
出版年（W3CDTF）: 2008
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: HLDVT '08 proceedings
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Microprocessors -- Testing -- Congresses
Computer software -- Verification -- Congresses
Electronic circuits -- Testing -- Congresses
Electronic digital computers -- Evaluation -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and author index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA88699182#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA88699182 : BA88699182