Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop, SSPR & SPR 2010 : Cesme, Izmir, Turkey, August 18 - 20, 2010 : proceedings

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資料種別: 図書
ISBN: 9783642149795
タイトル: Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop, SSPR & SPR 2010 : Cesme, Izmir, Turkey, August 18 - 20, 2010 : proceedings
著者・編者: Edwin R. Hancock ... [et al.](eds.)
著者標目: Hancock, Edwin R
https://ci.nii.ac.jp/author/DA10773013
Wilson, Richard C.
Windeatt, Terry
Ulusoy, Ilkay
Escolano, Francisco
https://ci.nii.ac.jp/author/DA17136608
出版事項: Springer
出版年月日等: 2010
出版年（W3CDTF）: 2010
大きさ: 24cm
出版地（国名コード）: gw
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Includes index
関連情報: Lecture notes in computer science
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282272706176768
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB04903818#entity
掲載誌: Lecture notes in computer science
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282272706176768
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB04903818 : BB04903818