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Conference Record : AUTOTESTCON '95, August 8-10, 1995, Atlanta, Georgia : "Systems Readiness: Test Technology for the 21st Century" : soft. : case.

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Conference Record : AUTOTESTCON '95, August 8-10, 1995, Atlanta, Georgia : "Systems Readiness: Test Technology for the 21st Century" : soft.

資料種別
図書
著者
sponsored by: the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Aerospace and Electronics Systems Society, Instrumentation and Measurement Society
出版者
IEEE Service Center
出版年
c1995
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
28 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

Includes bibliographical references and index"95CH35786."

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紙

資料種別
図書
ISBN
0780326210
0780326229
タイトル
Conference Record : AUTOTESTCON '95, August 8-10, 1995, Atlanta, Georgia : "Systems Readiness: Test Technology for the 21st Century"
巻次・部編番号
: soft.
: case.
著者・編者
sponsored by: the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Aerospace and Electronics Systems Society, Instrumentation and Measurement Society
著者標目
Autotestcon
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955611外部サイト
Institute of Electrical and Electronics Engineers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00739948外部サイト
IEEE Aerospace and Electronic Systems Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02635965外部サイト
IEEE Instrumentation and Measurement Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955666外部サイト
出版事項
IEEE Service Center
出版年月日等
c1995
出版年（W3CDTF）
1995
大きさ
28 cm