Proceedings, 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, August 6-7, 2001, San Jose, California, USA : case

資料種別: 図書

著者: editors, Yervant Zorian ... [et al.] ; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI ; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society

出版者: IEEE Computer Society

出版年: c2001

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769512429
0769512437
タイトル: Proceedings, 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, August 6-7, 2001, San Jose, California, USA
巻次・部編番号: : case
著者・編者: editors, Yervant Zorian ... [et al.] ; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI ; in cooperation with IEEE Solid State Circuits Society
著者標目: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
https://ci.nii.ac.jp/author/DA12300318
Zorian, Yervant
Courtois, B. (Bernard)
https://ci.nii.ac.jp/author/DA09741734
Wik, Thomas
Cockburn, Bruce
IEEE Computer Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00479199
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1250352X
IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI
https://ci.nii.ac.jp/author/DA04967445
IEEE Solid-State Circuits Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA13128277
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: c2001
出版年（W3CDTF）: 2001
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: PR01242
Records of the 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Computer Society Order Number PR01242" -- T. p. verso
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA53591736#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA53591736 : BA53591736