Field-ion microscopy : ne : us

Field-ion microscopy : ne

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資料種別: 図書
ISBN: 072041752X
0444100040
タイトル: Field-ion microscopy
巻次・部編番号: : ne
: us
著者・編者: K. Bowkett and D.A. Smith
著者標目: Bowkett, K. M.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA11658644
Smith, David A. (David Anthony)
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02268139
出版事項: North-Holland
Sole distributed for the U.S.A. and Canada, American Elsevier
出版年月日等: 1970
出版年（W3CDTF）: 1970
大きさ: 23 cm
出版地（国名コード）: ne
本文の言語コード: en
件名標目: Field ion microscope
LCC: QH212.F5
対象利用者: 一般
関連情報: Defects in crystalline solids
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269855087872
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA09972399#entity
https://lccn.loc.gov/76108283
掲載誌: Defects in crystalline solids
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269855087872
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA09972399 : BA09972399
LC control number: 76108283
https://lccn.loc.gov/76108283