Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors, the Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, September 17-22 1989 v. 1 v. 2

Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors, the Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, September 17-22 1989 v. 1

資料種別: 図書

著者: edited by K. Sumino

出版者: North-Holland

出版年: 1990

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 27 cm

NDC: -

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一般注記：: Includes bibliographical references and index

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資料種別: 図書
ISBN: 0444884297
タイトル: Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors, the Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, September 17-22 1989
巻次・部編番号: v. 1
v. 2
著者・編者: edited by K. Sumino
著者標目: International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors
https://ci.nii.ac.jp/author/DA05002273
角野, 浩二スミノ, コウジ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA05002364
出版事項: North-Holland
Distributors for the U.S. and Canada, Elsevier Science Pub.
出版年月日等: 1990
出版年（W3CDTF）: 1990
大きさ: 27 cm
出版地（国名コード）: ne
本文の言語コード: en
件名標目: Semiconductors -- Defects -- Congresses
Materials -- Defects -- Congresses
LCC: QC611.6.D4
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA11471035#entity
https://lccn.loc.gov/90042223
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA11471035 : BA11471035
LC control number: 90042223
https://lccn.loc.gov/90042223