Local pattern detection : international seminar, Dagstuhl Castle, Germany, April 12-16, 2004, revised selected papers

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資料種別: 図書
ISBN: 3540265430
タイトル: Local pattern detection : international seminar, Dagstuhl Castle, Germany, April 12-16, 2004, revised selected papers
著者・編者: [edited by] Katharina Morik, Jean-François Boulicaut, Arno Siebes.
著者標目: International seminar
Morik, Katharina
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02506791
Boulicaut, Jean-François
https://ci.nii.ac.jp/author/DA15034287
Siebes, Arno
https://ci.nii.ac.jp/author/DA13228293
出版事項: Springer
出版年月日等: c2005
出版年（W3CDTF）: 2005
大きさ: 24 cm
出版地（国名コード）: gw
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical refernces and index
関連情報: Lecture notes in computer science
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282272706176768
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA73084060#entity
https://lccn.loc.gov/2005929338
掲載誌: Lecture notes in computer science
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282272706176768
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA73084060 : BA73084060
LC control number: 2005929338
https://lccn.loc.gov/2005929338