Record : 1973 IEEE Symposium on Computer Software Reliability, New York City, April 30 through May 2, 1973

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資料種別: 図書
タイトル: Record : 1973 IEEE Symposium on Computer Software Reliability, New York City, April 30 through May 2, 1973
著者・編者: sponsored by IEEE Long Island Section ... [et al.]
著者標目: IEEE Symposium on Computer Software Reliability (1973 : New York, N.Y.)
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Long Island Section
出版事項: Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月日等: c1973
出版年（W3CDTF）: 1973
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 1973 IEEE Symposium on Computer Softeware Reliability
Computer software reliability
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Computer software -- Reliability -- Congresses
Computer software -- Testing -- Congresses
Debugging in computer science -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographies
"IEEE catalog no. 73 CHO741-9C"
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA72669331#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA72669331 : BA72669331