解法テクニックでわかる新TOEIC Test 基本Part得点術 = Let's get started for the TOEIC test

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資料種別: 図書
ISBN: 9784881985892
タイトル: 解法テクニックでわかる新TOEIC Test 基本Part得点術 = Let's get started for the TOEIC test
タイトルよみ: カイホウテクニックデワカルシン TOEIC Test キホン Part トクテンジュツ
著者・編者: 足立和美, Rebekah Hamner, Matthew Eng著
著者標目: 足立, 和美アダチ, カズミ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08315978
Hamner, Rebekah
Eng, Matthew
出版事項: 松柏社
出版年月日等: 2007.4
出版年（W3CDTF）: 2007
大きさ: 26cm
並列タイトル等: 解法テクニックでわかる新TOEIC Test 基本Part得点術
出版地（国名コード）: ja
対象利用者: 一般
一般注記: 付属資料: (録音ディスク1枚 : ディジタル ; 12cm)
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA81318542#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA81318542 : BA81318542