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Surface modification of iron oxides by ion bombardment – Comparing depth profiling by HAXPES and Ar ion sputtering

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Surface modification of iron oxides by ion bombardment – Comparing depth profiling by HAXPES and Ar ion sputtering

資料種別
記事
著者
M. Fondellほか
出版者
Elsevier BV
出版年
2018-04
資料形態
デジタル
掲載誌名
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 224
掲載ページ
p.23-26
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デジタル

資料種別
記事
出版年月日等
2018-04
出版年(W3CDTF)
2018-04
タイトル(掲載誌)
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
巻号年月日等(掲載誌)
224
掲載巻
224
掲載ページ
23-26
掲載年月日(W3CDTF)
2018-04