Surface modification of iron oxides by ion bombardment – Comparing depth profiling by HAXPES and Ar ion sputtering

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Surface modification of iron oxides by ion bombardment – Comparing depth profiling by HAXPES and Ar ion sputtering

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資料種別: 記事
タイトル: Surface modification of iron oxides by ion bombardment – Comparing depth profiling by HAXPES and Ar ion sputtering
著者標目: M. Fondell
M. Gorgoi
M. Boman
A. Lindblad
出版年月日等: 2018-04
出版年（W3CDTF）: 2018-04
タイトル（掲載誌）: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
巻号年月日等（掲載誌）: 224
掲載巻: 224
掲載ページ: 23-26
掲載年月日（W3CDTF）: 2018-04
ISSN（掲載誌）: 03682048
出版事項（掲載誌）: Elsevier BV
対象利用者: 一般
DOI: 10.1016/j.elspec.2017.09.008
作成日（W3CDTF）: 2017-09-28
著作権情報: https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/
http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
関連情報（URI）: https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0368204816302109?httpAccept=text/xml
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0368204816302109?httpAccept=text/plain
参照: Surface characterization of functional iron–gallium alloys annealed under different conditions
https://cir.nii.ac.jp/crid/1360576118692477952
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: Crossref
https://www.crossref.org
Crossref
https://www.crossref.org