Proceedings, 32nd Applied Imagery Pattern Recognition Workshop : October 15-17, 2003, Washington, D.C.

資料種別: 図書

著者: sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence ; presented by AIPR - Applied Imagery Pattern Recognition ; [edited by Elmer Williams]

出版者: IEEE Computer Society

出版年: 2004

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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一般注記：: Includes bibliographical references and index"IEEE Computer Society Order no. P2029"

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0769520294
タイトル: Proceedings, 32nd Applied Imagery Pattern Recognition Workshop : October 15-17, 2003, Washington, D.C.
著者・編者: sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence ; presented by AIPR - Applied Imagery Pattern Recognition ; [edited by Elmer Williams]
著者標目: Applied Imagery Pattern Recognition Workshop
Williams, Elmer
IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence
https://ci.nii.ac.jp/author/DA10227002
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: 2004
出版年（W3CDTF）: 2003
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 32nd Applied Imagery Pattern Recognition Workshop : image data fusion
AIPR 2003
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Optical pattern recognition -- Congresses
Image processing -- Congresses
LCC: TA1650
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and index
"IEEE Computer Society Order no. P2029"
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA76209209#entity
https://lccn.loc.gov/2004100407
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
https://cir.nii.ac.jp/
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: BA76209209
https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA76209209
LC control number: 2004100407
https://lccn.loc.gov/2004100407