ハンマリング加振機構...

ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(26) (機構デバイス)

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ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(26)

(機構デバイス)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
024195621
Material type
記事
Author
和田 真一ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2012-12-21
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(370):2012.12.21
Publication Page
p.27-32
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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
和田 真一
越田 圭治
サインダー ノロブリン 他
Series Title
Alternative Title
Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using Hammering Oscillating Mechanism and Micro-Sliding Mechanism : A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism (26)
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
112(370):2012.12.21
Volume
112
Issue
370