真空紫外励起用ケイ酸塩・アルミノケイ酸塩蛍光体における結晶構造と焼成劣化との関係 (電子ディスプレイ)

真空紫外励起用ケイ酸塩・アルミノケイ酸塩蛍光体における結晶構造と焼成劣化との関係

(電子ディスプレイ)

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(409):2013.1.24・25

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Material Type: 記事
Title: 真空紫外励起用ケイ酸塩・アルミノケイ酸塩蛍光体における結晶構造と焼成劣化との関係
Author/Editor: 中村公彦
國本崇
大観光徳
Series Title: 電子ディスプレイ
Author Heading: 中村公彦
國本崇
大観光徳
Alternative Title: Relationship between crystal structure and firing degradation in alumino-silicate phosphors for VUV excitation
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 112(409):2013.1.24・25
Volume: 112
Issue: 409
Pages: 25-28
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2013-01
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: VUV蛍光体
BaMgAl₁₀O₁₇:Eu
熱耐性
酸化焼成
VUV phosphor
thermal resistance
oxidized fire
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): EID2012-15
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 024262658
http://id.ndl.go.jp/bib/024262658
Bibliographic Record Category (NDL): 632