ランダム・テレグラフ・ノイズが低電圧CMOS論理回路の遅延ゆらぎに及ぼす影響 (シリコン材料・デバイス・IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))

ランダム・テレグラフ・ノイズが低電圧CMOS論理回路の遅延ゆらぎに及ぼす影響

(シリコン材料・デバイス・IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(421):2013.1.30

This page shows libraries in Japan other than the National Diet Library that hold the material.

Please contact your local library for information on how to use materials or whether it is possible to request materials from the holding libraries.

other

CiNii Research
Search Service
You can check the holdings of institutions and databases with which CiNii Research is linked at the site of CiNii Research.
Check the holdings of this book

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 記事
Title: ランダム・テレグラフ・ノイズが低電圧CMOS論理回路の遅延ゆらぎに及ぼす影響
Author/Editor: 松本高士
小林和淑
小野寺秀俊
Series Title: シリコン材料・デバイス・IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術)
Author Heading: 松本高士
小林和淑
小野寺秀俊
Alternative Title: Impact of Random Telegraph Noise on CMOS Logic Delay Uncertainty under Low Voltage Operation
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 112(421):2013.1.30
Volume: 112
Issue: 421
Pages: 27-30
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2013-01-30
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: ディペンダブルVLSI
CMOS
RTN
dependable VLSI
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): SDM2012-144
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 024262959
http://id.ndl.go.jp/bib/024262959
Bibliographic Record Category (NDL): 632