オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価 (VLSI設計技術)

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オンチップ・リークモニタによるランタイム・パワーゲーティングの制御にむけた損益分岐点の評価

(VLSI設計技術)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
024263246
Material type
記事
Author
松永 健作ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2013-01
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(375):2013.1.16・17
Publication Page
p.63-68
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
松永 健作
工藤 優
太田 雄也 他
Series Title
Alternative Title
Break Even Time Evaluation of Run-Time Power Gating Control by On-chip Leakage Monitor
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
112(375):2013.1.16・17
Volume
112
Issue
375