ソースフィールドプレート構造AlGaN/GaN HEMTのラグ現象,電流コラプス及び耐圧特性の解析 (マイクロ波)

ソースフィールドプレート構造AlGaN/GaN HEMTのラグ現象,電流コラプス及び耐圧特性の解析

(マイクロ波)

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(381):2013.1.17・18

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Material Type: 記事
Title: ソースフィールドプレート構造AlGaN/GaN HEMTのラグ現象,電流コラプス及び耐圧特性の解析
Author/Editor: 塙秀之
小野寺啓
堀尾和重
Series Title: マイクロ波
Author Heading: 塙秀之
小野寺啓
堀尾和重
Alternative Title: Analysis of Lag Phenomena, Current Collapse and Breakdown Characteristics in Source-Field-Plate AlGaN/GaN HEMTs
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 112(381):2013.1.17・18
Volume: 112
Issue: 381
Pages: 57-62
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2013-01
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: GaN
HEMT
フィールドプレート
ラグ現象
電流コラプス
耐圧特性
2次元解析
Field plate
lag phenomena
current collapse
breakdown voltage
two-dimensional analysis
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): MW2012-153
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 024263718
http://id.ndl.go.jp/bib/024263718
Bibliographic Record Category (NDL): 632