ハンマリング加振機構...

ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27) (有機エレクトロニクス)

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ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)

(有機エレクトロニクス)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
024679045
Material type
記事
Author
和田 真一ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2013-06-21
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(98):2013.6.21
Publication Page
p.55-60
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
和田 真一
越田 圭治
益田 直樹 他
Alternative Title
Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Hammering Oscillating Mechanism or a Micro-Sliding Mechanism : A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism(27)
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
113(98):2013.6.21
Volume
113
Issue
98