制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 (ディペンダブルコンピューティング)

制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法

(ディペンダブルコンピューティング)

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(104):2013.6.21

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Material Type: 記事
Title: 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法
Author/Editor: 森保孝憲
大竹哲史
Series Title: ディペンダブルコンピューティング
Author Heading: 森保孝憲
大竹哲史
Alternative Title: A Method of Deterministic LFSR Seed Generation for Scan-Based BIST
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 113(104):2013.6.21
Volume: 113
Issue: 104
Pages: 7-12
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2013-06-21
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: スキャンBIST
LFSR
リシード
シード生成
テスト生成制約
Scan-based BIST
reseeding
seed generation
test generation constraint
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): DC2013-11
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 024679505
http://id.ndl.go.jp/bib/024679505
Bibliographic Record Category (NDL): 632