データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討 (VLSI設計技術 デザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地)

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データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討

(VLSI設計技術 デザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
025089602
Material type
記事
Author
野々山 聡ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2013-11
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(320):2013.11.27-29
Publication Page
p.221-226
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
野々山 聡
佐藤 康夫
梶原 誠司 他
Alternative Title
A Study of Burn-In Test Prediction by Data Mining
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
113(320):2013.11.27-29
Volume
113
Issue
320