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雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
Volume number113(416)-113(420):2014.1.28-2014.1.29
Articleオンチップリークモニ...

オンチップリークモニタ回路を用いたNBTI測定手法の提案と有効性 (コンピュータシステム)

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オンチップリークモニタ回路を用いたNBTI測定手法の提案と有効性

(コンピュータシステム)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
025280175
Material type
記事
Author
佐藤 貴晃ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2014-01
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(417):2014.1.28・29
Publication Page
p.173-178
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Title
オンチップリークモニタ回路を用いたNBTI測定手法の提案と有効性
Author/Editor
佐藤 貴晃
宇佐美 公良
Series Title
コンピュータシステム
Author Heading
佐藤 貴晃
宇佐美 公良
Alternative Title
Methodology for NBTI measurement using an on-chip leakage monitor circuit
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
113(417):2014.1.28・29
Volume
113
Issue
417