雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
Volume number115(358):2015.12.10・11
Article周期分極反転ニオブ酸...

周期分極反転ニオブ酸リチウムデバイスの縦続二次非線形効果を用いた全光超高速ゲートスイッチの数値解析 : デバイス作製誤差の影響 (光エレクトロニクス)

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周期分極反転ニオブ酸リチウムデバイスの縦続二次非線形効果を用いた全光超高速ゲートスイッチの数値解析 : デバイス作製誤差の影響

(光エレクトロニクス)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
027038412
Material type
記事
Author
福地 裕ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2015-12
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115(358):2015.12.10・11
Publication Page
p.5-10
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Paper

Material Type
記事
Title
周期分極反転ニオブ酸リチウムデバイスの縦続二次非線形効果を用いた全光超高速ゲートスイッチの数値解析 : デバイス作製誤差の影響
Author/Editor
福地 裕
山本 雅
円田 章宏
Series Title
光エレクトロニクス
Author Heading
福地 裕
山本 雅
円田 章宏
Alternative Title
Numerical Analyses of all-optical ultra-fast gate switches using cascaded second-order nonlinear effect in periodically poled lithium niobate devices : effects of device fabrication errors
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
115(358):2015.12.10・11
Volume
115
Issue
358