薄膜化したシリカ/エ...

薄膜化したシリカ/エポキシ樹脂ナノコンポジット材料のナノスケール絶縁耐性評価 (誘電・絶縁材料研究会・空間電荷・コンポジット)

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薄膜化したシリカ/エポキシ樹脂ナノコンポジット材料のナノスケール絶縁耐性評価

(誘電・絶縁材料研究会・空間電荷・コンポジット)

Call No. (NDL)
Z43-227
Bibliographic ID of National Diet Library
027842677
Material type
記事
Author
大西 拓弥ほか
Publisher
東京 : 電気学会
Publication date
2016-12-19
Material Format
Paper
Journal name
電気学会研究会資料. DEI 2016(92・94-106):2016.12.19
Publication Page
p.17-22
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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
大西 拓弥
小花 絃暉
橋本 修一郎
富田 基裕
渡邉 孝信
武良 光太郎
津田 敏宏
吉満 哲夫
Alternative Title
Nano-scale Dielectric Breakdown Strength Evaluation of Silica/Epoxy-Resin Nano-Combosite Thin Film
Periodical title
電気学会研究会資料. DEI
No. or year of volume/issue
2016(92・94-106):2016.12.19
Volume
2016
Issue
92・94-106