信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について (VLSI設計技術)

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信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について

(VLSI設計技術)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
028346422
Material type
記事
Author
松永 裕介
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2017-06
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(97):2017.6.19・20
Publication Page
p.107-112
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
松永 裕介
Series Title
Author Heading
Alternative Title
SAT model sampling for test pattern generation considering signal transition activities
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
117(97):2017.6.19・20
Volume
117
Issue
97