ブラッグ波長離調を用...

ブラッグ波長離調を用いた半導体薄膜DFB/DRレーザのしきい値電流温度依存性 (信頼性)

Icons representing 記事

ブラッグ波長離調を用いた半導体薄膜DFB/DRレーザのしきい値電流温度依存性

(信頼性)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
028509128
Material type
記事
Author
井上 大輔ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2017
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(191):2017.8.31・9.1
Publication Page
p.51-54
View All

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type
記事
Author/Editor
井上 大輔
福田 快
平谷 拓生
冨安 高弘
瓜生 達也
雨宮 智宏
西山 伸彦
荒井 滋久
Series Title
Alternative Title
Temperature dependance of threshold current of membrane DFB/DR lasers using Bragg wavelength detuning
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
117(191):2017.8.31・9.1
Volume
117
Issue
191