Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル (マイクロ波・ミリ波フォトニクス ; 光・電波ワークショップ)

Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル

(マイクロ波・ミリ波フォトニクス ; 光・電波ワークショップ)

Call No. (NDL): Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library: 029144266

Material type: 記事

Author: 山口裕太郎ほか

Publisher: 東京 : 電子情報通信学会

Publication date: 2018-07

Material Format: Paper

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118(145):2018.7.19・20

Publication Page: p.125-130

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Paper

Material Type: 記事
Title: Sパラメータ過渡応答測定を用いてトラップの非線形容量への影響を考慮したKa帯GaN大信号モデル
Author/Editor: 山口裕太郎
大塚友絢
半谷政毅
新庄真太郎
大石敏之
Series Title: マイクロ波・ミリ波フォトニクス ; 光・電波ワークショップ
Author Heading: 山口裕太郎
大塚友絢
半谷政毅
新庄真太郎
大石敏之
Alternative Title: A Ka-band GaN Large-Signal Model Considering Trap Effect on Non-linear Capacitance by Using Transient S-parameters Measurement
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 118(145):2018.7.19・20
Volume: 118
Issue: 145
Pages: 125-130
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2018-07
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: GaN
HEMT
Ka-band
Large-Signal
Model
Trap
Transient response
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): MWP2018-29
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 029144266
http://id.ndl.go.jp/bib/029144266
Bibliographic Record Category (NDL): 632