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微小部蛍光X線分析によるめっき膜厚測定 (小特集 薄膜の物性等に関する評価技術)

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微小部蛍光X線分析によるめっき膜厚測定

(小特集 薄膜の物性等に関する評価技術)

Call No. (NDL)
Z17-291
Bibliographic ID of National Diet Library
034407839
Material type
記事
Author
深井 隆行ほか
Publisher
東京 : 表面技術協会
Publication date
2025-10
Material Format
Paper
Journal name
表面技術 = Journal of the Surface Finishing Society of Japan 76(10):2025.10
Publication Page
p.456-460
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
深井 隆行
土屋 恒治
辻川 葉奈
大柿 真毅
Alternative Title
Micro-Focused X-ray Fluorescence Analysis for Plating Thickness Measurement
Periodical title
表面技術 = Journal of the Surface Finishing Society of Japan
No. or year of volume/issue
76(10):2025.10
Volume
76
Issue
10