不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性 (回路とシステム)

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不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性

(回路とシステム)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
10308961
Material type
記事
Author
間渕 隆之ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2009-07
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109(110) 2009.7.1・2
Publication Page
p.109~112
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
間渕 隆之
宮城 賢二
渡邊 実 他
Alternative Title
Fault tolerance of a dynamic optically reconfigurable gate array using a non-volatile volume holographic memory
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
109(110) 2009.7.1・2
Volume
109
Issue
110