大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価 (シリコン材料・デバイス)

大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価

(シリコン材料・デバイス)

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109(257) 2009.10.29・30

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Material Type: 記事
Title: 大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価
Author/Editor: 藤澤孝文
阿部健一
渡部俊一他
Series Title: シリコン材料・デバイス
Author Heading: 藤澤孝文
阿部健一
渡部俊一
Alternative Title: Statistical analysis of random telegraph signal using a large-scale array TEG with a long time measurement
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 109(257) 2009.10.29・30
Volume: 109
Issue: 257
Pages: 31～36
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2009-10
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: MOSFET
ばらつき
ランダムテレグラフシグナル
RTS
時定数
トラップ
variability
Random Telegraph Signal
time constant
trap
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): SDM2009-123
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 10433057
http://id.ndl.go.jp/bib/10433057
Bibliographic Record Category (NDL): 632