雑誌電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
Volume number110(181) 2010.8.26・27
Articleハンマリング加振機構...

ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9) (レーザ・量子エレクトロニクス)

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ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9)

(レーザ・量子エレクトロニクス)

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
10816243
Material type
記事
Author
和田 真一ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2010-08
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110(181) 2010.8.26・27
Publication Page
p.1～6
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Title
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9)
Author/Editor
和田 真一
越田 圭治
Saindaa Norovlin 他
Series Title
レーザ・量子エレクトロニクス
Author Heading
和田 真一
越田 圭治
Saindaa Norovlin
Alternative Title
Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: modeling of the oscillating mechanism (9)
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
110(181) 2010.8.26・27
Volume
110
Issue
181