固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法

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固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
4988570
Material type
記事
Author
永井 慎太郎ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2000-01-12
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 99 (通号 532) 2000.01.12
Publication Page
p.29~36
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
永井 慎太郎
和田 弘樹
大竹 哲史 他
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
99 (通号 532) 2000.01.12
Volume
99
Sequential issue number
532
Pages
29~36
Publication date of volume/issue (W3CDTF)
2000-01-12