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システム設計レベルにおける回路の性質検証のための整数データを処理可能なCTLモデル検査法の提案と実装 (システムLSI設計技術研究報告)

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システム設計レベルにおける回路の性質検証のための整数データを処理可能なCTLモデル検査法の提案と実装

(システムLSI設計技術研究報告)

Call No. (NDL)
Z14-1121
Bibliographic ID of National Diet Library
5740908
Material type
記事
Author
佐藤 友哉ほか
Publisher
東京 : 情報処理学会
Publication date
2000-09
Material Format
Paper
Journal name
情報処理学会研究報告 = IPSJ SIG technical reports 2000(79) 2000.9.7・8
Publication Page
p.17~24
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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
佐藤 友哉
北道 淳司
東野 輝夫
Periodical title
情報処理学会研究報告 = IPSJ SIG technical reports
No. or year of volume/issue
2000(79) 2000.9.7・8
Volume
2000
Issue
79
Pages
17~24