Cat-CVD法による表面パッシベーション膜を用いた高信頼度GaN HEMT

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Cat-CVD法による表面パッシベーション膜を用いた高信頼度GaN HEMT

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
7254590
Material type
記事
Author
國井 徹郎ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2005-01-18
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 104(552) 2005.1.18
Publication Page
p.25~30
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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
國井 徹郎
戸塚 正裕
加茂 宣卓 他
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
104(552) 2005.1.18
Volume
104
Issue
552
Pages
25~30
Publication date of volume/issue (W3CDTF)
2005-01-18