単眼ステレオ法の精度向上と微細電子部品検査への適用 (第10回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集)

単眼ステレオ法の精度向上と微細電子部品検査への適用

(第10回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集)

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Material Type: 記事
Title: 単眼ステレオ法の精度向上と微細電子部品検査への適用
Author/Editor: 渡辺隆
藤原孝幸
輿水大和
Series Title: 第10回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集
Author Heading: 渡辺隆
藤原孝幸
輿水大和
Periodical title: 知能メカトロニクスワークショップ講演論文集
No. or year of volume/issue: 10 2005.9.1・2
Volume: 10
Pages: 91～96
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2005-09
Publication (Periodical Title): 高松 : 精密工学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: ZM11
Target Audience: 一般
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z74-C287
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 7876026
http://id.ndl.go.jp/bib/7876026
Bibliographic Record Category (NDL): 632