ダミーフィルがオンチップ配線の高周波特性に与える影響の解析的評価手法 (第20回回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング)

ダミーフィルがオンチップ配線の高周波特性に与える影響の解析的評価手法

(第20回回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング)

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Material Type: 記事
Title: ダミーフィルがオンチップ配線の高周波特性に与える影響の解析的評価手法
Author/Editor: 土谷亮
小野寺秀俊
Series Title: 第20回回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集 ; デバイスモデリング
Author Heading: 土谷亮
小野寺秀俊
Alternative Title: Analytical estimation of interconnect loss due to dummy fills
Periodical title: 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集
No. or year of volume/issue: 20 2007.4.23・24
Volume: 20
Pages: 19～22
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2007-04
Publication (Periodical Title): [東京] : [電子情報通信学会]
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z74-E560
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 9386639
http://id.ndl.go.jp/bib/9386639
Bibliographic Record Category (NDL): 632